当SoC上有超过80%的芯片面积被各种形式的存储器占用之时，存储器的DFT测试已经变得非常重要。
2023-12-09 09:56
接着上文，MCU芯片设计了mbist、scan chain之后，功能仿真失败？
2023-02-20 09:35
jtag端口的复位信号jtag_trst用于复位TAP状态机模块，该复位信号可选。
2023-05-25 15:09
BAP(BIST Access Port)，即内建自测试访问接口，主要用于In System Test，它要求芯片在已经部署到产品中，甚至芯片正在运行中，可对芯片的memory进行在线、实时地进行测试和诊断。
2023-09-15 11:43
MBIST是Memory Build-In-Self Test的简称，意为存储器内建自测试。
2024-05-19 09:14
由于增加了大量的mux来完成时钟、复位可控，导致中端网标中的cell有工艺库文件指定的delay参数，默认是1ns，那么会造成clk delay，比如插入两级mux就会形成2ns延时
2023-02-19 10:11
今天这期小编将继续与大家一起学习DFT的相关知识和流程代码，在开始之前，先解决一下上期DFT学习的章节最后留下的问题—DFT工程师在收敛时序timing的时候经常遇到的hold的问题，即不同时钟域的两个SDFF(扫描单元的SI端hold违例问题。
2023-04-16 11:34
本文基于MBIST的一般测试方法来对多片SRAM的可测试设计进行优化，提出了一种通过一个MBIST控制逻辑来实现多片SRAM的MBIST测试的优化方法。
2011-12-15 10:25
Mbistarchitec（MBIST，Memory Built-In Self-Test）是一种用于存储器（尤其是随机存取存储器，RAM）的内置自测试技术。它通过在存储器内部实现测试算法，可以在
2024-07-13 10:57
LBIST (Logic build-in-self test), 逻辑内建自测试。和MBIST同理，在关键逻辑上加上自测试电路，看看逻辑cell有没有工作正常。BIST总归会在芯片里加入自测试逻辑，都是成本。
2022-08-29 15:33
