当SoC上有超过80%的芯片面积被各种形式的存储器占用之时，存储器的DFT测试已经变得非常重要。
2023-12-09 09:56
接着上文，MCU芯片设计了mbist、scan chain之后，功能仿真失败？
2023-02-20 09:35
本文基于MBIST的一般测试方法来对多片SRAM的可测试设计进行优化，提出了一种通过一个MBIST控制逻辑来实现多片SRAM的MBIST测试的优化方法。
2011-12-15 10:25
INNOVUS/ICC2吐出的netlist经过Formal/LEC验证后，Star-RC/QRC抽取RC寄生参数文件并读入到Tempus/PT分别做func/mbist/scan时序
2024-10-23 09:50
Lec形式验证想必ICer们都很熟悉，尤其是中后端的IC工程师，在正常逻辑综合生成网表过后或DFT插入mbist等可测试逻辑综合后，需要对综合后产生的网表与综合前的RTL代码进行等效逻辑Lec验证
2023-04-08 09:22
