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  • 什么是MBIST看了就知道

    MBIST概述MBIST的架构

    2020-12-10 07:00

  • L220 MBIST控制器技术参考手册

    MBIST是测试嵌入式存储器的行业标准方法。MBIST通过根据测试算法执行对存储器的读取和写入序列来工作。存在许多行业标准的测试算法。 MBIST控制器生成对RAM的所有位置的正确读取和写入序列,以

    2023-08-02 14:47

  • MBIST测试期间的总线错误怎么解决?

    我在测试 MBIST 时观察到 总线错误 。为了测试所有SRAM,我使用 ECCMAP 寄存器触发故障,但这导致了带有陷阱4 和 2类的 总线错误 。我还观察到,访问损坏的内存时会报告 ALM7

    2025-07-25 06:49

  • CoreLink 2级MBIST控制器L2C-310技术参考手册

    MBIST是测试嵌入式存储器的行业标准方法。MBIST通过根据测试算法执行对存储器的读取和写入序列来工作。存在许多行业标准的测试算法。 MBIST控制器生成对RAM的所有位置的正确读取和写入序列,以

    2023-08-02 17:33

  • ARM L210 MBIST控制器技术参考手册

    MBIST是测试嵌入式存储器的行业标准方法。MBIST通过根据测试算法执行对存储器的读取和写入序列来工作。存在许多行业标准的测试算法。MBIST控制器生成正确的读取和写入序列。ARM L210

    2023-08-02 08:07

  • Arm PMC-100可编程MBIST控制器技术参考手册

    PMC-100允许在功能运行期间对内核中的SRAM和内存保护逻辑进行透明的现场测试,而不会损坏内存或逻辑状态。 PMC-100是一种可编程MBIST控制器,通常用于功能安全应用,可用于定期、在通电

    2023-08-17 07:10

  • 多片SRAM的可测试设计怎么优化?

    的测试设计显得尤为重要。对于单片或者数量很小的几片嵌入式SRAM,常用的测试方法是通过存储器内建自测试MBIST来完成,实现时只需要通过EDA软件选取相应的算法,并给每片SRAM生成MBIST控制逻辑

    2019-10-25 06:28

  • 求助,关于S32k322 BIST问题求解

    BIST_INTEGRITY_FAIL MBIST configuration. MBIST 测试也有失败。 因为预期值为 : 0x0000 01F0。此值从以下位置读取:SAFETYBASE_REG_READ32

    2025-03-21 06:29

  • 为什么diable dcache能让mcu恢复正常?

    嗨,我在调试 mbist 时遇到了一个问题。详细背景如下: 1。我根据芯片手册将不同的 SRAM 分为 4 组。 2.gang 0 是 CPU0/CPU1 DMEM,gang1 是 CPU0

    2024-01-23 07:18

  • 自检控制单元RAM测试类型无法找到

    早上好, 关于SPC56EL60微控制器的自测控制单元,我有一个技术问题。 从文档中可以看出,该单元对微观进行了各种类型的自测,包括ram内存测试(MBIST)。我无法找到该单位执行什么类型的记忆

    2018-12-19 16:36