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型号:WD4000系列 品牌:中图仪器
WD4000晶圆Warp翘曲度量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2025-05-20 14:02 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体晶圆Warp翘曲度量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷
2024-05-31 10:35 中图仪器 企业号
WD4000晶圆表面形貌参数测量仪通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。能实现晶圆厚度
2024-05-16 14:40 中图仪器 企业号
WD4000系列晶圆微观几何轮廓测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2025-03-19 17:36 中图仪器 企业号
WD4000半导体晶圆制程检测设备几何量测系统通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷
2024-06-05 09:46 中图仪器 企业号
型号:WD4000 品牌:中图仪器
WD4000无图晶圆粗糙度测量设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。自动测量Wafer
2025-06-03 15:52 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆几何参数测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2024-11-25 16:13 中图仪器 企业号
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2024-09-19 11:39 中图仪器 企业号
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2024-07-31 14:28 中图仪器 企业号
WD4000晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2024-07-11 10:39 中图仪器 企业号