1/f和RTN噪声测试可能需要很长时间，尤其是在测量频率低至1 Hz或更低的情况下。单一温度下的扫描时间通常长达30分钟。器件模型的标准数据采集需要在多个温度下在小垫上的DUT数据
2022-06-08 14:52
瑞萨电子开发出了对起因于随机电报噪声（RTN：Random Telegraph Noise）的SRAM误操作进行观测并实施模拟的方法。利用该方法可高精度地估计22nm以后尖端LSI中的RTN影响，适当设定针对RTN的
2011-01-18 15:28
如果视频直播的端到端延迟必须严格控制在 500 毫秒以内，使之具备和视频连麦相同的低延迟体验，现在的 CDN 加速技术还能起作用吗？
2018-05-29 08:58
在这篇文章中，我们将涵盖实现高吞吐量闪烁噪声测量。闪烁和RTN噪声测试可能需要很长时间，尤其是在测量频率低至1 Hz或更低的情况下。单一温度下的扫描时间通常长达30分钟。器件模型的标准数据采集需要在多个温度下在小衬垫上的DUT数据。
2022-07-06 14:29
使用CM300xi-ULN探测系统结合PureLine 3技术，设备测试工程师、相关工程师和集成电路设计工程师都可以方便。精确闪烁，RTN和相位噪声测量先进的材料，封装互连，晶体管和集成电路可以简单而自动地完成，以便更快地获得数据。
2022-10-13 15:25
主要应用领域： 1.快速热处理(RTP)，快速退火(RTA)，快速热氧化(RTO)，快速热氮化(RTN)； 2.离子注入/接触退火； 3.金属合金； 4.热氧化
2023-08-16 18:24
台推出以来，我们已在博客上介绍了其PureLine 3技术，该技术旨在为低频闪烁（1/f）、RTN和相位噪声测量消除97%的探针台环境噪声。本介绍了测试单元电源管理（TCPM）的特点。 传统的在片测量测试单元定义为一组连接设备，包括测试软件、仪器、
2022-07-05 10:33
CM300xi-ULN，该系统设计用于闪烁噪声（1/f）、随机电报噪声（RTN）和相位噪声的高精度测试。 此类噪声问题对先进模拟和数字IC技术造成的困扰日益增加，而该技术功率和性能的提高需要以降低噪声容许量为代价。因此，目前的器件设计和验证需使用高灵敏度设备仔细表征
2022-07-05 10:28
300mm晶圆探针台CM300xi-ULN，该系统设计用于闪烁噪声（1/f）、随机电报噪声（RTN）和相位噪声的高精度测试。 此类噪声问题对先进模拟和数字IC技术造成的困扰日益增加，而该技术功率和性能的提高需要以降低噪声容许量为代价。因此，目前的器件设计和验证需使用高灵敏度设
2022-06-18 15:14
电路采用AD9101与高速8位A／D转换器AD9002配合，目的在于提升Flash ADC的高频性能；同时用稳压管与运放电压跟随器输出，将AD9101的RTN脚电位抬高到0．33V。
2019-01-28 18:48
