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  • 验证环境获取DUT内部信号的方法

    在UVM寄存器模型的操作中,寄存器用于设置DUT状态和芯片状态信息的上报,有前门和后门读写两种方式。

    2023-08-19 09:50

  • 基于DUT内部寄存器值的镜像

    寄存器模型保持着DUT内部寄存器值的 镜像(mirror) 。 镜像值不能保证是正确的,因为寄存器模型只能感知到对这些寄存器的外部读写操作。 如果DUT内部修改了寄存器中的字段,镜像值就会 过时

    2023-06-24 12:02

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    智能手机和平板电脑的旺盛市场需求迫使生产线寻求更大吞吐量的无线综测解决方案,专攻生产线测试解决方案的Litepoint公司今年6月14日应时而动,推出了同时支持1、4和8部DUT的2G/3G/LTE智能手机和平板电脑无线综测仪IQxstream(可参阅本站另一篇专题报道)。

    2019-03-20 10:08

  • 残余相位噪声测量从外部噪声源中提取DUT噪声

    残余相位噪声测量消除了外部噪声源(如电源或输入时钟)的影响,而绝对相位噪声测量则包括来自这些源的噪声。残余相位噪声设置可隔离并测量器件的附加相位噪声。利用这些信息,设计人员可以选择信号链中的单个器件,以满足整个系统的相位噪声要求。本文包括时钟器件的相位噪声图,以突出显示残余相位噪声设置的属性。它还演示了如何使用器件的附加相位噪声来识别信号链中噪声相关问题的来源。

    2023-02-02 11:55

  • 使用OI-EASU432型EMI扫描仪与频谱仪对DUT进行EMI测试实验方案

    实验背景:在电子设备的设计与制造流程中,电磁干扰(EMI)占据着举足轻重的地位,是不可或缺的考量要素。鉴于某些设备在运作时可能释放出高强度的电磁辐射,进而对周边设备的稳定运行构成潜在威胁。我们借助EMI扫描仪、近场探头以及频谱分析仪等尖端工具,来精准地识别并锁定这些干扰源头。通过集成高效能的测试设备,实现对电子设备电磁辐射特性的全面剖析。实验目的:1、识别设

    2024-08-31 08:05 海洋仪器 企业号

  • 利用NI PXIe-4139的源测量单元对高瞬时功率进行测试

    一般来说,SMU所提供的功率会由于转化成待测设备(DUT)的热能而发生损耗。 这样一来不但会提高温度,还会改变DUT的电子属性和物理属性。 在特定的温度下,DUT的属性会大幅变化,使得获得的IV数据

    2020-05-15 09:42

  • UVM验证环境开发之建模激励数据

    作为DUT的激励对象。

    2023-05-29 14:57

  • 基于基带处理芯片的应用RVM验证方法的注意事项与技巧

    测试层用于对DUT的逻辑功能进行验证。这一层主要是用户为了验证DUT的逻辑功能而编写的不同测试例,在测试例中可以对各个模块的限制条件进行修改。通过对不同测试例运行结果的统计,可以查看DUT的功能覆盖率,只有功能覆盖率

    2021-03-22 15:27

  • 验证组件配置参数

    一些典型 的 验证组件 配 置参数示例:  一个agent可以被配置为 active 或者 passive 模式。在active模式下agent驱动DUT,在passive模式下agent被动地检查

    2023-06-14 10:20

  • 使用PLTS去嵌方法和探针校准片SLOT校准测试结果对比

    测试一:先将网分与线缆校准后,然后连接两个探针测试DUT,将两个探针的S参数、两个探针+DUT的整体S参数分别导出,然后使用PLTS校准软件将探针本身S参数去嵌,得到单独DUT的S参数。

    2022-12-08 15:55