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我们知道,不论是哪一级的验证,最终都是通过 pin 连接到 DUT 上向其施加激励,**对于 UVM 验证平台中,使用虚接口来实现 DUT 和验证平台的通信
2023-03-21 11:20
您好技术专家,我打算测量DUT的S参数。我的DUT是一块非常薄的材料,将夹在一对波导之间。由于传输介质是波导,我不能使用默认的calkit。因此我使用了TRL校准方法。我读过很多关于TRL校准的技术
2019-08-19 13:24
TestBench即测试平台,是为了检验待测设计(design under test,DUT)而搭建的验证环境。
2023-06-12 17:38
我有一台N5242A,正在运行PLTS2013,用于微探测器设置。在过去,我使用校准基板进行微探测,并使用未知直通校准来获得单个微探针的S参数。然后,我在我的电缆末端进行测量并测量我的DUT。之后
2019-07-15 06:57
TestBench即测试平台,是为了检验待测设计(design under test,DUT)而搭建的验证环境。
2023-02-24 17:19
在UVM寄存器模型的操作中,寄存器用于设置DUT状态和芯片状态信息的上报,有前门和后门读写两种方式。
2023-08-19 09:50
There seems to be some confusion on what the current limits are when using the DUT supplies
2019-05-24 06:27
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2022-12-12 19:11
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2022-12-01 21:15
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2022-12-05 21:20