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聚焦离子束（FocusedIonBeam,FIB）技术是一种强大的微纳加工和分析工具，它利用高度聚焦的离子束对材料表面进行纳米尺度的刻蚀、沉积、成像和成分分析。FIB系统的基础架构聚焦离子束技术

2025-08-21 14:13 金鉴实验室 企业号

聚焦离子束（FocusedIonBeam，简称FIB）技术是一种精密的微纳加工手段，它通过将离子束聚焦到极高的精度，实现对材料的精确蚀刻和加工。FIB技术的核心在于其能够产生具有极细直径的离子束

2024-12-02 15:25 金鉴实验室 企业号

FIB技术的核心价值聚焦离子束（FIB）技术是一种在微纳尺度上实现材料精确加工的先进技术。它通过将离子束聚焦到极高的精度，能够对材料进行纳米级的蚀刻和加工。这种技术的关键在于其能够产生直径极细

2025-03-18 21:30 金鉴实验室 企业号

聚焦离子束（FIB）技术因液态金属离子源突破而飞速发展。1970年初期，多国科学家研发多种液态金属离子源。1978年，美国加州休斯研究所搭建首台Ga+基FIB加工系统，推动技术实用化。80至90年代

2025-08-19 21:35 金鉴实验室 企业号

FIB技术定义聚焦离子束（FocusedIonBeam,FIB）技术是一种先进的微纳加工技术，它利用高度聚焦的离子束对材料进行精确的加工、分析和成像。FIB技术能够在纳米尺度上实现材料的去除、沉积

2024-12-20 12:55 金鉴实验室 企业号

FIB介绍聚焦离子束（FIB）技术作为一种高精度的微观加工和分析工具，在半导体失效分析与微纳加工领域，双束聚焦离子束（FIB）因其“稳、准、狠、短、平、快”的技术特征，被业内誉为“微创手术刀”。它

2025-07-24 11:34 金鉴实验室 企业号

双束技术：FIB与SEM的协同工作双束聚焦离子束显微镜的关键在于其双束技术，离子束（FIB）用于样品的精确切割和蚀刻，而电子束（SEM）则捕捉样品的高分辨率图像。SEM垂直安装，FIB则以一定角度

2024-12-30 15:31 金鉴实验室 企业号

FIB（聚焦离子束）切片分析作为一种前沿的材料表征技术，凭借其高精度和多维度的分析能力，在材料科学、电子器件研究以及纳米技术领域扮演着至关重要的角色。它通过离子束对材料表面进行刻蚀，形成极薄的切片

2025-02-21 14:54 金鉴实验室 企业号

离子束与样品的相互作用在FIB系统中，离子源产生的离子束经聚焦后轰击样品表面，引发一系列物理现象。入射离子与样品原子的原子核碰撞，产生溅射现象，这是FIB进行材料去除和加工的基础。同时，入射离子也

2025-06-27 18:43 金鉴实验室 企业号

芯片失效分析的关键工具在半导体行业迅速发展的今天，芯片的可靠性成为了衡量其性能的关键因素。聚焦离子束（FIB）技术，作为一种先进的微纳加工技术，对于芯片失效分析至关重要。在芯片失效分析中的核心作用

2024-11-28 17:11 金鉴实验室 企业号