发文章
发资料
发帖
提问
发视频
0
搜索热词
型号：大规模集成电路芯片 品牌：广电计量
、ATE 测试与三温(常温/低温/⾼温)验证。（3）破坏性分析：塑料开封、去层、板级切片、芯片级切片、推拉力测试。（4）微观显微分析：DB FIB
2024-03-14 16:12 广电计量 企业号
型号：电子元器件失效分析 品牌：广电计量
、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试（2）常⻅失效模式分析：静电损伤、过电损伤、键合
2024-03-15 17:34 广电计量 企业号
