ATPG是什么？ATPG有何重要性？常见的DFT技术有哪几种？
2021-11-02 09:31
招聘三个人1、专做ic设计流程的高级工程师2、主要做pcie开发的高级工程师3、dft负责人，全模块都负责过的高级工程师（ATPG，MBIST，SCAN 等）招聘2-5年的数字ic设计工程师3人，主要是RTL代码编写能力，再加上后期的仿真验证求推荐，***@qq.com
2016-09-07 17:04
混合扫描测试解决方案的优势是什么
2021-05-11 06:15
求大佬分享生产制造中的低功耗测试方法
2021-04-12 06:56
如何利用EDA工具去提高系统级芯片测试的效率？
2021-05-07 06:08
基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理是什么？扫描设计测试的实现过程是怎样的？基于扫描的DFT对芯片测试的影响有哪些？
2021-05-06 09:56
怎么实现基于LFSR优化的BIST低功耗设计？
2021-05-13 06:21
IEEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或"dot 1")是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的，通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发展。
2019-11-04 07:35
本文将讨论3D集成系统相关的一些主要测试挑战，以及如何通过Synopsys的合成测试解决方案迅速应对这些挑战
2021-05-10 07:00
数字芯片内部的架构是由哪些部分组成的？数字IC设计的流程主要分为哪几大步？每个流程使用的EDA工具有哪些？
2021-06-18 08:29
