一、降低scan pattern的toggle rate在run_atpg前面加上如下
2021-12-28 19:18
一、降低scan pattern的toggle rate在run_atpg前面加上如下
2022-02-22 06:05
Automatic Test Pattern Generation(ATPG)ATPG有效性是衡量测试错误覆盖了的重要指标。测试是向一个处于已知状态的对象施加确定的输入激励，并测量其确定的输出响应
2021-07-29 08:47
本文档的主要内容详细介绍的是组合逻辑自动测试生成的PDF文件免费下载包括了：• 自动测试生成(ATPG)相关问题 • 组合(Combinational)逻辑ATPG算法相关概念 • 组合逻辑ATPG
2020-12-01 08:00
芯片延迟Delay测试的学习课件PDF文件免费下载包括了：• 为什么需要Delay测试 • Delay产生原因和缺陷机制 • Delay故障建模 • Delay故障仿真 • Delay故障ATPG • Delay测试结构和ATPG商用工具
2020-12-01 08:00
在数字系统的测试中, ATPG 是对测试电路产生测试向量的过程[ 1] 。通常ATPG 算法首先给电路插入一个故障; 然后通过在电路输入端激活这个故障, 并将其产生的响应通过电路传播到
2008-10-19 16:16
时序逻辑自动测试生成的PDF文件免费下载包括了：时序逻辑电路 • 时间帧(Time Frame)扩展法 • 基于仿真(simulation)方法 • 测试数据压缩与解压缩 • 商用ATPG工具介绍
2020-12-01 08:00
引入布尔差分的思想，对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销，并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明，本方案可以有效地进行测试生成。
2017-09-08 14:25
芯片 ATPG 正日渐衰退，对于许多现有的和未来的集成芯片器件来说，一项主要挑战就是如何为庞大数量的设计创建测试图案。对于有百万门甚至数亿门的设计，传统上等到设计完成再创建测试图案的方法是不切实际的，产生所有这些图案需要庞大的计算能力和相当多的时间。分层可测试性设
2017-12-04 11:21
的生成（ATPG）以及测试的时序等诸多问题。并结合最常用的综合工具 SYNOPSYS 中的 DFT COMPILER 部分，深入描述了为一数字电路芯片加入扫描部分和产生测试矢量集的具体流程。扫描结构对数字电路的结构有一些限制，为了避免违反这些限制，文中罗列了所谓的设计规范，并详细介绍了如
2021-03-26 14:48
