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来源:《半导体芯科技》杂志文章 在晶圆级集成 ALD 生长的二维材料，需要克服先进工艺开发的挑战。 作者：Friedrich Witek，德国森泰科仪器（SENTECH Instruments）公司
2024-06-24 14:36
测量测试、电子制造自动化、防静电以及新材料等相关最新技术和产品。奥提龙科技（深圳）有限公司将携行业各种光学镜头、棱镜，U-Technologh光源，Sentech相机等产品在展会现场为每一位客户免费提供测试样品。
2015-03-23 17:03
