在上一篇文章中讨论，高速 ADC 的单粒子效应 (SEE)：单粒子闩锁 (SEL)，我们通过观察闩锁引起的 SEL 开始讨论高速 ADC 的 SEE通过辐射。正如我们所知，通常首先执行 SEL 测试
2023-05-08 11:52
NuMicro NUC029SEE为Arm Cortex -M0 32位微控制器系列，其特点为宽电压工作范围2.5V ~ 5.5V与-40℃ ~ +105℃工作温度、内建22.1184 MHz高精度
2020-02-25 10:39
情况下ADC的闩锁门限。AD9246S 14位125 MSPS ADC的SEE测试设置图如下所示。该测试设置用于收集AD9246S的SEL、SEU和SET性能结果。
2023-06-30 11:49
今天我们将专门研究高速 ADC 以及可以观察到的单事件效应。我计划在接下来的几篇博客中深入探讨这些单一事件效应。在本期文章中，我们将着眼于高速 ADC 的单事件闩锁 (SEL)。SEL 类似于传统闩锁的情况，其中器件表现出异常高的电源电流，这是由从电源到地的感应路径引起的。在 SEL 之后，如果没有重新上电，设备将不会恢复正常运行。回想一下，单粒子干扰 (SEU) 和单粒子瞬态 (SET) 是软错误，发生在辐射暴露期间，器件通常会快速恢复。与 SEL 不同，该设备不需要电源循环或设备重置来恢复正常操作。这是 SEL 测试通常在 SEU 和 SET 测试之前执行的原因之一。
2023-05-09 15:10
小。ADC的单事件效应测试报告表3-3对此进行了总结。我认为现在SET测试的总和，我们可以期待在下一部分中讨论单个事件翻转（SEU）。我相信本系列提供了一些关于如何为各种类型的SEE查看设备的一些见解。
2023-06-30 14:27
世界创客大会在上周末的纽约皇后区举行。在科学馆底层的中庭里，你会见到这样一个有趣的圆柱体：表面“贴”满了半透明的荧光绿电路板不停地摇动，就像一片片风中的机器树叶。这个设备叫做“See
2019-04-02 14:50
与SET的情况一样，器件不需要复位即可在单个事件失控后恢复正常运行。由于 SEU 是非破坏性事件，因此设备在事件发生后也能完全正常运行。从技术上讲，SET也可以被视为高速ADC的SEU，因为离子撞击可能会导致SEU，从而导致瞬态事件，我们称之为SET。出于本博客的目的，我们将分别提及这些事件，以区分高速ADC可能发生的单个事件效应的类型。
2023-06-30 14:24
与 SEL 测试不同，测试标准中不需要在评估 SIT 时保持器件的高外壳温度。通常，测试在环境温度条件下进行，同时监控和记录温度。与 SEL 测试一样，SET 评估通常执行高达 <> MeV-cm 的能量水平2/毫克，流度为107离子/厘米2.在某些情况下，能量水平可以≥ 120 MeV-cm2/mg 用于 SET 评估。
2023-06-30 14:36
根据维信诺官方微信公众号消息，维信诺将发布InV see屏下摄像解决方案，这是全球首个达到量产应用级别的屏下摄像解决方案。该方案通过开发应用新透明OLED器件、新型驱动电路和像素结构、导入高透明新材料，达到了显示效果和屏幕透明度最佳平衡，呈现出更为优质的显示和拍照效果，实现——真 · 全 面 屏
2020-06-08 14:44
John Deerec所经营的Blue River公司正在广泛测试其AI驱动系统。
2019-05-16 14:36
