PWS2323电源，现象依旧。请问是外围电流哪个参数不合理造成？谢谢大家！其中：+V_DA为12V输入；C301为钽电容。
2021-07-15 09:18
问题,也有不完善的地方,就是修改密码后,如果输入的密码与修改的密码相同,则锁会开,如果有一次输入有错,则密码会变回原来的密码,即362330.可能因为定义的数组pws[6]为全局变量,但是也不肯定.希望下载
2013-12-25 22:56
有谁知道如何将数据传递到MiniTab并启动类似于使用Excel的MiniTab？ 以上来自于谷歌翻译 以下为原文Does anyone know how to pass data to MiniTab and lauch MiniTab similar to using Excel?
2019-03-14 11:29
大家好，我是一个新的用户与PICS，我正在实验中的NCO外围设备在PIC16F15313生产PFM输出。我有一个关于NCO增量寄存器的问题：NCO1ON/NCO1CUL寄存器决定NCO输出高或低的多少个时钟周期，或者这是别的什么吗？我在数据表中找不到答案，谢谢你的帮助。谢谢。 以上来自于百度翻译 以下为原文 Hi all, I'm a new user with PICs and I'm experimenting with the NCO peripheral in a PIC16f15313 to produce a PFM output.I've got a question regarding NCO increment registers:Do the NCO1INCH/NCO1INCL registers determine how many clock cycles the NCO output is high/low for or is this something else?I couldn't find an answer in the datasheet and any help would be appreciated. --Thank you
2018-11-26 15:54
前提：1.第一台电脑为 win10 32位 ，安装access 2007，labview 2014(32位)，配置好后，增加labsql工具包后，可以正常访问access数据库2.第二台电脑为win 10 64位，同时安装了labview 2014(32位)与labview 2015(64位)，没有安装access，程序在2014下跑没问题，2015下跑，会报如下错误，请问是什么问题？是需要装access吗（可是为什么2014不会报错呢）
2018-08-13 17:47
我正在将基于mfgr驱动程序的测试系统转换为使用VISA I / O库。系统已经可靠运行了5 - 6年，没有命令（SCPI）或时序结构发生变化，但是当我使用VISA库时，我在大约1500次操作时得到“VI_ERROR_SYSTEM_ERROR”，导致软件在2次尝试后冻结恢复。最常见的仪器是66311D电源。我知道这似乎是很多操作。这些测试涉及16个DUT，100个测试和3个温度下的4个配置操作，以及在不同温度下对所有16个DUT进行100组测量，正如我之前所说，测试已经运行了几年。一个DUT通常需要在一个温度下进行1000次仪器操作。我使用的是Windows XP SP3，Agilent I / O Library 16.1，HP 66311D，HP 53181A，Aeroflex 2945B以及一些专有夹具。我无法在Internet或任何Agilent文档中找到相关参考。任何帮助将不胜感激。 以上来自于谷歌翻译 以下为原文I am converting a mfgr driver based test system to using the VISA I/O library. The system has worked reliably for 5-6 yearsand none of the command (SCPI) or timing structurehas changed, but when I use the VISA library I get a "VI_ERROR_SYSTEM_ERROR" at about 1500 operations which causes the software to freeze after 2 tries to recover. The most common instrument involved is the 66311D power supply. I know this seems like a lot of operations. These tests involve 16 DUTs, 100 tests and 4 configuration operations at 3 temperatures and a group of 100 measurements at various temperatures for all 16 DUTs and as I indicated earlier the tests have been running for several years. One DUT typically requires 1000 instrument operations at one temperature. I am using Windows XP SP3, Agilent I/O Library 16.1, HP 66311D, HP 53181A, Aeroflex 2945B, and some proprietary fixtureing.I have been unable to find a relevant reference on the Internet or in any Agilent documentation. Any help will be appreciated.
2019-08-06 12:19
