C-V测试是研究绝缘栅HEMT器件性能的重要方法，采用Keithley 4200半导体表征系统的CVU模块测量了肖特基栅和绝缘栅异质结构的C-V特性。
2023-02-14 09:17
。Keithley TSP Toolkit程控开发辅助工具，是一种新的脚本开发环境，采用Keithley的TSP 指令并利用设备端可内置脚本能力，使得程控软件开发变得比以往更加简单和高效。
2025-01-03 15:53
氧化物完整性是一个重要的可靠性问题，特别对于今天大规模集成电路的MOSFET器件， 其中氧化物厚度已经缩放到几个原子层。JEDEC 35标准 (EIA/JE SD 35, Procedure for wafer-level Testing of Thin Dielectrics) 描述了通常用于监测氧化物完整性的两种晶圆级测试技术：电压斜坡 (V-Ramp)和电流斜坡 (J-Ramp )。这两种技术都为氧化物评估提供了快速反馈。
2024-11-18 10:22
美国Keithley公司采用前沿数字与射频技术实现了灵活的软件无线电结构(SDR)架构，该架构具有高性能、低成本特性。 SDR架构 SDR定义为使用软件进行无线信号调制解调的无线通信系统，它允许宽
2017-12-13 13:36
