HALT（高加速生命周期测试）是一种在工程开发过程中验证产品可靠性的压力测试，HASS（高加速应力筛选）主要用于批量生产期间筛选出弱PCBA。两者都通常应用于电子设备，用于识别/解决新开发产品中的设计弱点。
2022-11-18 14:36
HALT对于在组件级别沉淀集成产品的潜在故障非常重要，这些故障可能是由流程或设计弱点引起的。因此，有必要对超出期望/预期的现场环境条件的产品施加压力，并且每个应力应逐步施加 - 例如增量的热应力
2022-12-05 16:48
当涉及到 PCB 组装时，稳健测试的重要性不可低估，因为最终产品的功效取决于 PCB 。对于电信行业中使用的 PCB ，它们需要通过以下程序进行严格的测试： l 高度加速的寿命测试或 HALT l
2020-11-02 19:29
许多MCU配置了一个独立的启动ROM，包含处理器复位并跳转到用户应用程序之前执行的代码。启动ROM的工作包含设置时钟，启用调试接口，根据不同的引导源初始化外围设备等等…当然，不同MCU的启动ROM行为并不相同。实际上，启动ROM的行为在同一设备的两个硬件版本之间也会有变化。
2023-04-14 13:04
STM8系列是意法半导体公司生产的8位的单片机。该型号单片机分为STM8A、STM8S、STM8L三个系列。STM8A：汽车级应用STM8S：标准系列STM8L：超低功耗MCU内核高级STM8内核，具有3级流水线的哈佛结构扩展指令集存储器程序存储器。
2017-12-08 17:33
国家电网：在就地化保护入网检测中，首次引入可靠性试验，验证产品可靠性设计水平和寿命指标。在关于新型一、二次设备（例如：电子式互感器）的科研项目中，增加了可靠性验证和寿命评估等相关研究课题。
2023-11-13 16:32
本节结合伺服轴的状态机介绍MC_Halt和MC_Stop功能块，对比了两个功能块执行时状态机的变化，及用法上的区别。 2_具体操作介绍 1.编程 在act_Admin中添加MC_Halt
2023-03-08 14:06
