纠出假芯片以预防失效为目的，防止有明显或潜在缺陷的元器件上机使用；评价和验证供货方元器件的质量；确定元器件在设计和制造过程中存在的偏差和工艺缺陷；DPA分析技术可以快速发现潜在的材料、工艺等方面的缺陷，这些缺陷最终导致元器件失效的时间是不确定的，多数为早期失效，但所引发的后果是严重的。
2021-10-22 15:12
在FPGA中，动态相位调整（DPA）主要是实现LVDS接口接收时对时钟和数据通道的相位补偿，以达到正确接收的目的。那么该如何在低端FPGA中实现DPA的功能呢？
2021-04-08 06:47
AT32F423入门使用指南旨在让用户快速使用AT32F423xx 进行项目开发。
2023-10-26 06:37
PSA Series Option 423 Installation Note
2019-09-12 11:44
DPA分析技术可以快速发现潜在的材料、工艺等方面的缺陷，这些缺陷最终导致元器件失效的时间是不确定的，但所引发的后果是严重的。DPA分析目的：1、验证元器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途
2020-08-14 16:25
这篇应用笔记主要在阐述AT32F423系列安全库区的应用原理、软件使用方法及范例程序。
2023-10-26 07:18
新型DC/DC电源控制芯片DPA426的应用(转) 引言 DPA426是PI(PowerIntegrationGmbH)公司设计的，高度集成的DC/DC电源控制芯片。它内部集成了一个200V的高频功率MOSFET，并将PWM...
2021-11-16 07:28
ADR423的数据手册上显示高输出电流为10mA，但是实际中用5V供电，实测输出电流只有2mA左右，再增加电流参考电压就降低到了1.6V，这是为什么？
2024-01-05 07:15
本参考手册涵盖了基于ARM® Cortex®-M4内核的单片机STM32F413/423产品线,它为用户使用以上单片机提供了完整的存储器和外设信息。点击下载STM32中文参考手册：STM32F413
2018-11-02 18:08
//初始化Ch423_Output.v = 0;MDrv_IIC_CH423_WriteByte(CH423_SYS_CMD, BIT_IO_OE)MDrv_IIC_CH423
2022-10-12 07:27
