电路上的开关检测电路，外部DI1开路的时候，光耦不发光，DIB1输入mcu高电平；外部DI1合闸接地GND-E的时候，光耦发光，DIB1低电平。在平常应用没问题，但是做抗扰度试验就不行了，DI1和GND-E加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号，整个设备
2020-02-04 07:30
电路上的开关检测电路，外部DI1开路的时候，光耦不发光，DIB1输入mcu高电平；外部DI1合闸接地GND-E的时候，光耦发光，DIB1低电平。在平常应用没问题，但是做抗扰度试验就不行了，DI1和GND-E加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号，整个设备
2020-07-29 10:07
中断），分别是IRQ和FIQ。在ICC_SRE_ELx寄存器，有DFB和DIB bit，分别控制FIQ，IRQ是否bypass。对于DIB bit的描述：对于DFB bit的描述：这2个bit，复位值
2022-04-08 10:10
电路上的开关检测电路，外部DI1开路的时候，光耦不发光，DIB1输入mcu高电平；外部DI1合闸接地GND-E的时候，光耦发光，DIB1低电平。在平常应用没问题，但是做抗扰度试验就不行了，DI1和GND-E加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号，整个设备
2020-03-25 09:16
=> clk,-- Input port-B clock DIA => datain(0 downto 0), -- Input port-A data DIB => "
2019-06-21 14:29
大家好 ...我在实现大小为65535 * 3的分布式RAM时出现问题，在大约2小时内合成时发生了很大的延迟并且没有停止，对这个问题有什么解释吗？提前致谢以上来自于谷歌翻译以下为原文Hello all ... I have a problem in implement the distributed RAM in size 65535 * 3, there a big delay happened in synthesize in about 2 hour and not stopping , is there any explanation to this problem????? thanks in advance
2019-06-25 11:03
嗨，我想测试IP核--- BRAM，它有真正的双端口，portA是'先写'，'总是启用'，portB是'先读'，'总是启用'。没有'常用时钟'。在测试平台中，wea = 1，web = 0;有两个源时钟--- clka和clkb，其周期分别为8ns。此外，对于地址和数据，＃0 wea = 1;幅= 0; ADDRA = 0;迪娜= 0; ＃10000 addra = 1;迪娜= 2; ＃100 addrb = 0; ＃1000 addrb = 1; ＃30000 $停止;在模拟波中，dout始终为x。是什么造成的？问候，索菲亚
2020-05-08 07:31
事实证明，WiMAX收发器件有益于消费电子市场的发展，它们在此找到了多种用途，其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作，并且使它们迅速上市，器件制造商们需要先进的多功能测试设备和同样先进的测试软件。
2019-06-03 06:16
一种生产型测试仪应有这种能力，即在各次测试间对测试仪硬件和DUT作必要修改时，仍保持数字子系统的运行。它使测试仪能够维持相对于DUT输出的选通时序，避免在正式运行中的选通相位重调，节省了测试时间。下一个重要的测试挑战是寻找一个能处理多级不确定性数据包传输性能的方式。如图3所示，在DUT的每个RF接收测试期间，测试仪都不知道每个包会在哪个测试循环中传输，包的类型会是什么，或者包的类型是否符合预期（例如，RFIC会生成一个主动的控制状态消息）。图 3. 由于数据包的不确定性，在一款器件的每次RF接收测试期间，测试仪不知道每个包会在哪个测试循环中传输，包的类型是什么，或者包的类型是否符合预期。 马上能看出，测试程序不能在数字测试模式中采用固定循环周期的选通隔离所需I/Q数据。同样，对同步或头的数字匹配回路不能以DigRF速度，足够快地通过ATE仪器的流水线，仪器也不能完成对头信息的实时识别和决策。
2019-06-03 06:35
本文选取五款比较典型的调谐器芯片进行分析比较，分别是ADMTV102、ADMTV803、MxL5007T、SMS1180和TP3021。
2021-06-07 06:27
