SoC测试技术传统的测试方法和流程面临的挑战是什么？SoC测试技术一体化测试流程是怎样的？基于光子探测的SoC测试技术是什么？有什么目的？
2021-04-15 06:16
在RF接收器(RX)的开发过程中，我们的团队发现其性能曾接近客户要求的极限。为了满足更大的挑战，对接收器的性能要求也不断提高。我们需要准确地选择接近需求极限的设备，如果不是好的设备，我们坚决不会使用。这就需要一个准确、可靠的测试程序，并且对生产环境来说具有成本效益。通过将比特误码率-信噪比(BER/SNR)相关联，让在甚高频(VHF)接收器中测试ACR(相邻信道抑制)成为可能。对于任何设备的元件测试，从试验台转到生产流程中的自动测试设备(ATE)上都将面临很大的挑战，而将高速RF设备的测试转至生产环境中却完全是令人怯步的。为了便于甚高频RF接收器在生产环境中的测试，您可以使用一种将误码率和信噪比与ACR相关联的技术。此项技术专为自动测试设备开发，可大大减少测试时间和内存需求，同时保证高度可靠的测试结果。为了将试验台设置顺利转至预期的自动测试设备上，并使其保持较强的关联性，我们进行了详尽的测试。主要的问题是，我们在试验台上使用了基带设备，以便通过降频转换接收到的数字RF信号，而一个设备的好坏取决于比特误码率的结果。为了解决这个问题，ACR成为接近容许公差的规范，它需要两个RF信号发生器用于试验台的设置。由于这是个复杂的测试方法，我们不可能在自动测试设备环境中完全复制试验台的设置，所以需要为大批量生产测试找到新的测试技术。
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