拖动下面的拖动条时候(其实随便在界面上按住左鼠标键拖动就会),会弹出,然后按存储后会推出配置界面.只有按CANCER就可以.不知道大家遇到没有.
2018-09-28 09:20
与西雅图儿童医院合作发起了一项众筹活动，旨在为“顽强抗癌”（Strong Against Cancer）慈善行动筹集资金。他把通过销售FanFlare聚会灯所获得的盈利全部捐赠给了这项慈善行动 ，而他
2018-09-07 14:17
天线，按维基百科的定义，"是一种用来发射或接收无线电波—或更广泛来讲—电磁波的器件"。例如，在无线通信系统中，天线被用于发射与接收射频与微波波段的电磁波。而在我们的智能手机中，就有内置的平面倒F天线(PIFA)，用于接收和辐射射频波段在2.4GHz和5GHz的电磁波信号。偶极子天线由于天线对电磁波的调控作用服从经典电磁学的基础方程，也即麦克斯韦方程(Maxwell Equations)，而麦克斯韦方程在形式上具有频率(波长)不变性，也就是说，麦克斯韦方程组并没有限制天线的工作波长。因此，在射频波段电磁天线的诸多功能(例如频率选择表面，相控阵雷达等)，逻辑上也可以在光频段实现[1]。麦克斯韦方程组在从无线电波到紫外光的整个电磁波谱范围都是成立的从尺度上来看，天线的工作波长λ与天线尺度L是线性相关的。以最简单的1/2波长偶极子天线(dipole antenna)为例，它由两根1/4波长单极子天线(monopole antenna)组成，其长度是工作波长λ的一半。对于工作900MHz的射频天线，其长度为估算为L = λ/ 2= (3e8 m/s / 900e6 /s) /2 = 0.167m。而工作波长在可见光的天线，其长度估算为L = λ/(2n)，这里n为天线所处的介质环境的折射率[2]。对于工作波长为680nm(红光)的光学天线，假设其制备衬底为硅，则L = λ/ (2n)= 680 nm / 2 / 3.4 = 100 nm。可见，对光学天线(光频段电磁天线)的研究，首先要解决的是要能实验制备与光波长尺度可比拟，乃至比光波长尺度还要小的微纳结构。
2019-06-12 07:50
如何从PSPICE过渡至NI Multisim？使用Multisim的简单设置步骤
2021-04-28 06:57
我对Ecal校准，85070E软件和校准标准有一些疑问; * 1 - *校准标准的温度会影响测量结果吗？例如：如果我在85070E软件的“配置校准”中将标准水的温度设置为25ºC，然后我在25ºC的水中进行测量......之后如果我重新校准系统，那么我就把温度标准化了在85070E软件的“配置校准”中将水再次加热至25ºC，我进行了新的测量，但在水中70ºC。是否会改变测量结果？ * 2 - *考虑到问题1，我想知道文献中是否有人提到温度对校准标准的影响？ * 3 - *在我的测量设置中，我有ECAL，ENA E5070,85070D探头，85070E软件和所有重要配件。我怎样才能测量校正后的系数反射？这个问题突然出现，因为在我校准系统后，ENA E5070B的显示屏仍保留在同一屏幕上，而不显示极坐标图表上的反射系数（附图）我将非常感谢任何帮助关于Daniel编辑：Danhen 2014于2014年7月19日下午12:25编辑：Danhen 2014年7月19日，2014 12:28编辑：Danhen 2014年7月19日，2014 12:29 PM编辑：Danhen 2014年7月19日，2014：12 PM 以上来自于谷歌翻译 以下为原文I've some questions about Ecal calibration, 85070E software and calibration standards; *1 -* The temperature ofcalibration standards influences in measurements results ? For instance: IfI put the temperatureof standard water to25º C in "Configure cal" on 85070E software and then I make a measurement in water 25º C ... And after if I recalibrate the system and thus I put the temperature of standard water again to25º C in "Configure cal" on 85070E software andI make a new measurement, butin water 70º C. Will change the measurement results ? *2 -* Considering the question 1, I would like know if there is someone reference in literature about the influence of temperature in calibration standards ? *3 -* In my measurement setup I have ECAL, ENA E5070, 85070D probe,85070E software and all important acessories. How could Imeasure the corrected coeffecient reflection ? This question pop up because after I've calibrated the system, the display of ENA E5070B remains on same screen and not shows the reflection coefficient on polar chart (attached figure) I will be very grateful for any help Regards Daniel Edited by: Danhen 2014 on Jul 19, 2014 12:25 PM Edited by: Danhen 2014 on Jul 19, 2014 12:28 PM Edited by: Danhen 2014 on Jul 19, 2014 12:29 PMEdited by: Danhen 2014 on Jul 19, 2014 12:30 PM附件Screen after calibration.BMP301.1 KB
2018-12-04 16:06
