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  • 求一个labview编写的示波器程序,用的是NI的5124板卡

    求一个labview编写的示波器程序,用的是NI的5124板卡

    2015-03-04 20:01

  • leds显示屏问题求解?!

    户外LED显示屏 间距 7.62,用 聚积的 MBI5124, 工程使用阶段出现以IC为单位的显示问题,换了同型号芯片后,显示正常。 测试芯片引脚:阻抗正常,有输入波形,通道没有输出,现需具体分析

    2018-06-20 17:38

  • 求助:运用PXI控制步进电机

    现有NI公司PXI系统。包括PXIe-1082机箱,PXIe-8840控制器,板卡有:PXI-4461,PXIe-6356,PXI-5124,PXI-4072,PXIe-4353。我想实现对一个

    2016-05-15 10:28

  • USART配置会导致BusyUSART()函数出错

    )\Microchip \xC8\v1.41\\PIC18F450.H:5124)OpenSART配置,我使用的是:OpenSART(UARTARTXXIN ItOXOFF和AUSTARTHROXXITNYOXOP

    2019-04-10 09:48

  • 请问发光二极管负极悬空时负极电压是多少?

    2.4V,有点不正常。2、 将PMOS元件SI2301ADS替换为栅极阈值电压更高的NVR5124PL,其栅极阈值电压为1.6V-2.5V。等待实际焊接验证。3、 如果以上方法都行不通,为保证功能,只好暂时将发光二极管替换为1K电阻。此时输出电路将无指示灯,此版PCB设计失败。

    2019-08-27 04:37

  • 求一种基于XVF3500的语音采集解决方案

    XMOS的XK-VF3500-L33-AVS VocalFusion™ 立体声开发套件有什么优点?适用于哪些领域?Qualcomm提供适用于哪些领域的智能耳机参考设计与开发套件?

    2021-07-08 07:45

  • 手机RF抗干扰能力怎么测试?

    目前,大多数蜂窝电话采用时分多址(TDMA)标准,这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调,再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围,因此它们会产生令人生厌的“嗡嗡”声。

    2019-09-26 07:52

  • 怎样去搭建一个基于QCC3020模块的蓝牙耳机功能代码

    QCC302x系列和QCC512x系列有何特点?怎样去搭建一个基于QCC3020模块的蓝牙耳机功能代码?

    2021-09-26 09:11

  • 利用电波暗室的通用集成电路RF噪声抑制能力测量技

    GSM手机的随处可见正导致不需要的RF信号的持续增加,如果电子电路没有足够的RF抑制能力,这些RF信号会导致电路产生的结果失真。为了确保电子电路可靠工作,对于电子电路RF抑制能力的测量已经成为产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术-RF电波暗室测量装置,描述了它的组成和操作方式,并给出了实际测量结果的例子。现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA),这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调,再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围,因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见,RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调,并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量,测试时需要把电路放在RF环境中测量,该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。

    2019-05-30 08:04

  • 一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术描述

    GSM手机的大量普及导致了不需要的RF信号的持续增加,如果电子电路没有足够的RF抑制能力,这些RF信号会导致电路产生的结果失真。为了确保电子电路可靠工作,对于电子电路RF抑制能力的测量已经成为产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术-RF电波暗室测量装置,描述了它的组成和操作方式,并给出了实际测量结果的例子。现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA),这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调,再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围,因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见,RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调,并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量,测试时需要把电路放在RF环境中测量,该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。

    2019-06-03 06:07