在BIST（内建自测试）过程中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测试矢量，从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上，针
2010-12-23 15:35
低成本BIST映射电路的设计与优化_张玲
2017-01-07 21:39
基于功能复用的抗老化BIST设计_梁华国
2017-01-07 16:00
低功耗的BIST伪随
2011-01-10 10:47
摘要：针对某SOC中嵌入的8KSRAM模块，讨论了基于MarchC-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率，研究了测试算法的选择、数据背景的产生，并完成了基于Ma
2010-04-26 15:18
随着FPGA在现代电子系统中应用的不断增多．FPGA的测试技术也得到非常快的发展。其中，内建白测试（BIST）的方法已经成为一种主流的解决方案。BIST方法一般来说可以分为两大类，一类是离线BIST
2017-11-08 14:21
介绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法，指出基于IP核的系统芯片(SOC) 的测试、验证以及相关性测试具有较大难度，传统的测试和验证方法均难以满足
2010-12-13 17:09
近几年基于预定制模块IP(Intellectual Property)核的SoC(片上系统)技术得到快速发展，各种功能的IP 核可以集成在一块芯片上，从而使得SoC 的测试、IP 核的
2009-09-09 08:33
随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后电路复杂度的不断提高特别是片上系统的不断发展主要包括验证测试和制造测试的芯片测试正在面临着巨大的挑战传统的使用自动测试设备的测试
2011-06-28 15:40
随着超大规模集成电路(VLSI)制造密度的提高．使得电子电路和系统变得日益复杂．也显著地拉加了模拟和数字集成电路充分测试的难度．另外．市场竞争的压力对集成电路(Ic)的-恻试
2010-08-06 15:53
