S参数时应避免使用最小损耗焊盘。执行此类测量的一种简单方法是将电缆器件的输入和输出阻抗视为50Ω，进行测试，并使用本应用笔记中提供的公式和Excel电子表格将50Ω参考的S
2023-03-03 15:21
QFN32 MLP32 MLF32 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN32的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽5×5mm 型号 32QN50S15050
2019-12-11 14:56
QFN32 MLP32 MLF32 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN32的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽5×5mm 型号 32LQ50S15050
2019-12-11 15:00
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽6×6mm 型号 40QN50S16060
2019-12-13 13:54
QFN48 MLP48 MLF48 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN48的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽7×7mm 型号 48QN50S17070
2019-12-13 14:08
QFN20 MLP20 MLF20 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN20的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽4×4mm 型号 20LQ50S14040
2019-12-10 13:59
ConnectX-4 Lx EN Network Controller with 1/10/25/40/50Gb/s Ethernet connectivity addresses
2019-11-11 08:39
QFN24 MLP24 MLF24 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN24的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽4×4mm 型号 24QN50S14040
2019-12-11 14:36
QFN28 MLP28 MLF28 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN28的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽5×5mm 型号 28QN50S15050
2019-12-11 14:40
传统单纤双向光模块的上下行波长为固定值，由于两端波长不一致、须配对使用，在实际使用过程中潜在AB端插错、配对异常等情况，对物料资源和维护管理提出更多挑战。有厂商提出50Gb/s波长自调谐BiDi光模块新型方案，可打破传统BiDi光模块“上下行”波长的约束限制，原理
2023-06-28 16:30
