dV/dt失效是MOSFET关断时流经寄生电容Cds的充电电流流过基极电阻RB，使寄生双极晶体管导通而引起短路从而造成失效的现象。
2022-03-29 17:53
DV是一份比较全面的试验报告，他从设计验证开始PV是产品已经成型后的一些试验验证，不会去考虑什么模流分析，只会从产品使用失效方面进行相关的测试
2017-12-18 16:20
电源上的高 dV/dt 上升时间会导致下游组件出现问题。在具有大电流输出驱动器的24V供电工业和汽车系统中尤其如此。该设计思想描述了如何控制上升时间，同时限制通过控制FET的功率损耗。
2023-02-13 10:49
探索TS3DV621：多功能信号开关的卓越之选 在电子设备飞速发展的今天，信号切换和传输的高效性与稳定性成为了设计的关键考量。德州仪器（TI）的TS3DV621作为一款12通道1:2复用器/解复用器
2025-12-23 16:40
高共模噪声是汽车系统设计人员在设计实用而可靠的动力总成驱动系统时必须克服的一个重大问题。当高压逆变电源和其他电源进行高频切换时，共模噪声（又称 dV/dt 噪声）便在系统内自然生成。本文将讨论混合动力系统驱动器内各种 dV/dt 噪声的来源，并提出一些方法来尽量减
2021-03-15 15:16
高速数据切换利器：TS3DV20812 深度解析 在当今高速数据传输的时代，对于高性能、高速度的信号切换和复用设备的需求日益增长。德州仪器（TI）的 TS3DV20812 便是一款在这一领域表现卓越
2025-12-24 15:30
基本和重要的问题。目前，无线传感器网络定位算法可以分为基于测距和基于非测距的定位算法。基于测距定位常用的测量方法有TOA、TDOA、AOA、RSSI，尽管这些技术相对精度高，但是对硬件要求很高。基于非测距定位常用的测量方法有：DV- Hop、质心、APIT、MDSMAP。
2015-10-06 10:38
探索TS3DV642 - Q1：高速差分多路复用器的卓越性能与应用 在当今高速电子设备的设计领域，对于能够处理高速差分信号的多路复用器的需求日益增长。TS3DV642 - Q1作为一款符合汽车级
2025-12-17 10:45
SSOP30 TSSOP30 IC引脚间距0.65mm 编程座 测试座 用于SSOP30的IC芯片进行烧写、测试 型号 OTS-30-0.65-01
2019-12-17 14:51
30个MATLAB图形绘制
2023-07-07 09:54
