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型号:AIM-432P 品牌:易测光学
前言利用光学+激光制造技术新的创新,武汉易之测仪器可以制造各种高质量标准或定制设计的各种石英晶圆玻璃激光厚度测量仪定制,以满足许多客户应用的需求。一、产品描述1.产品特
2025-02-13 09:32 武汉易测仪器的涂掌柜 企业号
型号:WD4000系列 品牌:中图仪器
、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆厚度测量设备可广泛应用于衬底制造、晶
2025-06-18 15:40 中图仪器 企业号
型号:tc wafer 品牌:
晶圆测温系统,晶圆测温热电偶,晶圆测温装置一、引言随着半导体
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
型号:WD4000 品牌:中图仪器
。 WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
WD4000晶圆几何形貌在线测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现
2025-05-30 11:03 中图仪器 企业号
、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。WD4000国产晶圆几何形貌量测设备自
2024-03-15 09:22 中图仪器 企业号
、晶圆制造、及封装工艺检测、3C 电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS 器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面
2024-12-02 11:20 中图仪器 企业号
WD4000晶圆Warp翘曲度量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现
2025-05-20 14:02 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆几何参数测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现
2024-11-25 16:13 中图仪器 企业号
。WD4000晶圆厚度翘曲度量测系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。使用光谱共焦对射技术测量晶
2024-11-29 14:30 中图仪器 企业号