本文将介绍ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次性通过单插入测试，以帮助进行DC参数测试和高速数字测试，从而降低测试成本，简化数字/RF片上系统(
2023-07-10 15:42
本文以目前流行的音频功放LM4990为例做详细介绍，此例中既包含了直流测试，也有交流参数的测试，属于LDO的晋级篇，熟悉本例之后将对以后的大规模SOC测试有很大帮助。
2017-11-06 17:13
片上芯片SoC挑战传统测试方案,SoC生产技术的成功，依靠的是厂商以最低的生产成本实现大量的生产能力
2012-01-28 17:14
探针测试；SIP相对SOC的架构；设计人员的新的责任：RF内置自检（BIST）;对于测试系统构架的影响。 系统级测试 现代高集成度的芯片有着射频到比特流（RF-to-b
2018-06-16 08:55
项以上，还有常规功能、性能测试，如果再迭加不同温度下SOC，测试工作量是非常庞大的。可想而知，一款定型的活性材料配方，到合格产品的推出，产品成熟周期需要多么漫长的时间。
2018-10-31 10:18
AXI 总线功能建模可简化Zynq-7000 All Programmable SoC 组件及子系统的验证工作。本文以赛灵思工具链为基础，通过逐步指导实例，详细介绍了该验证方法。
2018-07-20 10:03
开始SoC FPGA的学习路程还是蛮难的，不仅要熟悉整个的设计流程，而且还要掌握FPGA以及软件方面的知识，尤其大概看了一下后面的整体设计部分，操作起来还是较为繁琐的，以至于让人晕头转向。尽管如此
2023-03-30 10:13
ADC 界于模拟电路和数字电路之间，且通常被划 归为模拟电路，为减小数字电路的干扰，在芯片内部都将模拟电路和数字电路分 开布局；进行测试时为减小信号线上的分布电阻、电容和电感，尽量缩短导线长 度和增大导线之间的距离；为减小电源线和地线的阻抗，尽量增大电源线和地线 的宽度，或采用电源平面、地平面。
2017-10-30 17:40
高级测试设计 （DFT） 技术通过提高顺序翻牌的可控性和可观察性，提供高效的测试解决方案，以应对更高测试成本、更高功耗、测试面积和较低几何尺寸下的引脚数。这反过来又提高
2022-11-23 14:53
