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型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW

2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、

2024-01-10 11:10 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶

2024-02-21 13:50 中图仪器 企业号

型号：FPC1000 品牌：

主要特点出色的射频性能，德国工程设计10.1" WXGA（1366 像素 × 768 像素）显示屏——同级别中尺寸最大、分辨率最高跟踪源和独立连续波信号发生器内置电压驻波比 (VSWR) 电桥带史密斯圆图显示功能的单端口矢量网络分析仪

2022-03-12 16:23 深圳市科瑞电子仪器设备有限公司 企业号

型号：FPC1500 品牌：

主要特点出色的射频性能，德国工程设计10.1" WXGA（1366 像素 × 768 像素）显示屏——同级别中尺寸最大、分辨率最高跟踪源和独立连续波信号发生器内置电压驻波比 (VSWR) 电桥带史密斯圆图显示功能的单端口矢量网络分析仪

2022-03-12 16:26 深圳市科瑞电子仪器设备有限公司 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D

2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅

2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000无图晶圆粗糙度测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化

2024-05-29 11:10 中图仪器 企业号

型号：VT6000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器VT6000有图晶圆共聚焦高精度测量显微镜是基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，用于对各种精密器件及材料表面

2024-08-12 16:01 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度

2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号