吉时利的S530参数测试系统采用了成熟的源和测量技术，可满足工艺控制监测、工艺可靠性监测以及器件特性分析所需的全部直流和C-V测量。 针对高混合测试环境优化设计 S530参数测试系
2011-09-28 18:23
吉时利仪器公司持续强化S530参数测试系统，使这款测试系统成为半导体业界高速产品参数测试最具成本效益的解决方案。在最新版本吉时利测试环境软体（KTE V5.4）的支援下，S530目
2012-03-28 09:20
吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案——S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以
2012-03-30 11:05
吉时利仪器提升全自动化生产参数测试方案——S530参数测试系统产品线在几个方面的性能,这些性能提升包括增加了吉时利新的高吞吐量开关主机用于高完整性的信号切换
2011-02-14 09:21
2SJ530(L) 2SJ530(S) 数据表
2023-05-11 19:21
2SJ530(L) 2SJ530(S) 数据表
2023-06-28 19:44
电子发烧友网站提供《XL530S单片ASK/OOK射频接收芯片中文手册.pdf》资料免费下载
2025-03-27 18:06
XL530S是一款高集成度、低功耗的单片 ASK/OOK 射频接收芯片。高频信号接收功能全部集成于片内以达到用最少的外围器件和最低的成本获得最可靠的接收效果。因此它是真正意义上的“无线高频调制信号
2025-03-25 16:11
泰克发布的这一全新测试系统有助于加快制造速度，因为它缩短了测试时间，进而加快了新芯片的上市速度。
2021-09-29 11:49
XL530S 是一款高集成度、低功耗的单片 ASK/OOK 射频接收芯片。高频信号接收功能全部集成于片内，可以用最少的外围器件和最低的成本获得最可靠的接收效果。芯片接收灵敏度在433.92MHz下
2025-04-22 15:45
