QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.4mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试,IC体宽5×5mm 型号
2019-12-13 14:12
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.4mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试,IC体宽5×5mm 型号
2019-12-13 13:49
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试,IC体宽6×6mm 型号
2019-12-13 14:17
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试,有中心脚 型号
2019-12-13 13:52
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试,无中心脚 型号
2019-12-13 14:00
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试,IC体宽6×6mm 型号
2019-12-13 13:54
QFN32 MLP32 MLF32 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN32的IC芯片进行烧写、测试,有中心脚 型号 QFN-32(40)BT-0.5
2019-12-11 15:07
QFN32 MLP32 MLF32 IC引脚间距0.65mm 编程座 测试座 用于QFN32的IC芯片进行烧写、测试,无中心脚 型号 QFN-32(40)B-0.6
2019-12-13 13:51
QFN32 MLP32 MLF32 IC引脚间距0.4mm 编程座 测试座 用于QFN32的IC芯片进行烧写、测试,IC体宽4×4mm 型号 32QN40TS24040
2019-12-11 14:52
QFN20 MLP20 MLF20 IC引脚间距0.4mm 编程座 测试座 用于QFN20的IC芯片进行烧写、测试,IC体宽3×3mm 型号 20QN40T13030
2019-12-10 13:57