kV直流高压触发电路的设计，经过多次动态放电测试，能完全满足试验数据的要求，大大提高了试验数据的可靠性。
2023-02-20 17:49
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2019-12-01 11:40
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2019-12-02 13:51
QFP64 PQFP64 TQFP64 IC引脚间距0.5mm 测试座 用于QFP64的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽10
2019-12-02 14:14
QFP64 PQFP64 TQFP64 IC引脚间距0.5mm 测试座 用于QFP64的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽10
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QFP44 PQFP44 TQFP44 IC引脚间距0.8mm 测试座 用于QFP44的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽10
2019-12-02 11:40
QFP64 PQFP64 TQFP64 IC引脚间距0.5mm 测试座 用于QFP64的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽10
2019-12-02 14:10
QFP52 PQFP52 TQFP52 IC引脚间距0.65mm 测试座 用于QFP52的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽10
2019-12-02 13:55
QFP64 PQFP64 TQFP64 引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFP64的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽1
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