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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
WD4000晶圆翘曲度粗糙度表面形貌测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘
2024-06-19 14:38 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆厚度翘曲量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到
2025-06-16 15:08 中图仪器 企业号
变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确
2024-06-06 10:04 中图仪器 企业号
型号：SuperViewW1 品牌：
在芯片封装测试流程中，晶圆减薄和晶圆切割工艺需要测量晶圆膜厚、粗糙度、平整度（翘曲），晶圆切割槽深、槽宽、崩边形貌等参数
2022-08-18 16:59 中图仪器 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘
2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号
WD4000晶圆翘曲度几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、
2025-03-07 16:19 中图仪器 企业号
中图仪器SuperViewW1光学测量仪轮廓度测量放大成像，精密测量微观物体，以白光干涉技术为原理，采用
2022-08-19 18:37 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆表面粗糙度测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲
2024-09-20 14:00 中图仪器 企业号
型号：CH系列 品牌：
SuperViewW1光学轮廓度测量仪是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并
2022-07-25 14:33 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体晶圆粗糙度翘曲度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘
2024-06-27 14:54 中图仪器 企业号
