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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
WD4000晶圆翘曲度粗糙度表面形貌测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘
2024-06-19 14:38 中图仪器 企业号
变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确
2024-06-06 10:04 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆厚度翘曲量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到
2025-06-16 15:08 中图仪器 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘
2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号
WD4000晶圆翘曲度几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、
2025-03-07 16:19 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆表面粗糙度测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲
2024-09-20 14:00 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体晶圆粗糙度翘曲度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘
2024-06-27 14:54 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆细磨硅片粗糙度测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘
2024-11-22 15:37 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能
2024-06-18 10:08 中图仪器 企业号
WD4000晶圆微观三维形貌测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。兼容不同材质不同粗糙度、可
2024-12-20 15:11 中图仪器 企业号
