本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为
2021-04-30 06:13
关于时序逻辑等效性的RTL设计和验证流程介绍。
2021-04-28 06:13
SoC设计的特点软硬件协同设计流程基于标准单元的SoC芯片设计流程
2021-01-26 06:45
什么是功率放大器（PA）？如何去测试功率放大器（PA）？
2021-05-21 06:13
基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理是什么？扫描设计测试的实现过程是怎样的？基于扫描的DFT对芯片测试的影响有哪些？
2021-05-06 09:56
预期。 范例说明： (1) PA0 GPIO输出逻辑High，但PA0侦测到的逻辑为Low GPIOA_DOUT[0] = 1 表示
2023-06-20 08:24
急急急，请问有没有哪位大神做过基于labview温度湿度测试流程图，（注意不是看程序，是看流程图），小弟第一次写labview流程图不是太懂写法和格式以及注意的地方，有
2017-10-16 18:33
基于TESTBASE-PLTE 的自动化测试流程TESTBASE-PLTE 产品功能特点
2021-01-11 06:42
FT测试，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，对封装好了的每一个chip进行测试，是为了把坏的chip挑出来，检验
2023-08-01 15:34
)、爆米花效应，导致寿命变短或损伤。 测试流程是什么呢？待测物需先执行「初始电性测试」、「外观检查」、与「超音波检验」，确认待测物初始状况(是否有脱层Delamination、裂痕Crack等)，做为
2020-05-29 16:35
