MOSFET可实现相对较快的开关动作,从而降低开关损耗。 IV.实验验证 A.实验测试波形 将升压PFC转换器用作测量平台,进行评估。传统的TO247封装MOSFET和
2018-10-08 15:19
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2023-08-16 09:17
需要采购MOSFET 测试设备, 满足手工测试MOSFET的电参数(IDSS/IGSS/VTH/RDSON/VDSS/VGSS等等),ID电流最大100A,VDS电压高
2021-05-06 09:57
` 本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:50 编辑 在小尺寸器件中驱动更高功率得益于半导体和封装技术的进步。一种采用顶部散热标准封装形式的新型功率MOSFET就使用了新一代
2012-12-06 14:32
通常工程师在选用MOSFET时,会对其做哪些测试来判断它的性能,具体如何测试的,如温升,老化;求详细的解释~
2013-12-17 23:20
`目前,电源工程师面临的一个主要难题是,随着功能的日益增多,商用电子产品的尺寸不断缩小,留给电源电路的空间越来越少。解决这个难题的办法之一是充分利用在MOSFET技术和封装上的进步。通过在更小尺寸
2013-12-23 11:55
满足供电需求的新型封装技术和MOSFET
2012-08-29 14:52
,TO-247-4这种带辅助源极管脚的封装形式对碳化硅MOSFET这种高速功率开关带来的优势。 02 从数据的角度去分析共源杂散电感对开关损耗的影响 (1)双脉冲测试时的重要注意事项---电流探头的相位
2023-02-27 16:14
主板MOSFET的封装技术图解大全 主板的供电一直是厂商和用户关注的焦点,视线从供电相数开始向MOSFET器件转移。这是
2010-03-04 11:47
mosfet的TO220封装上的背后的铁片接的是漏极吗?为什么?
2015-10-25 20:56