发文章
发资料
发帖
提问
发视频
0
搜索热词
型号：tc wafer 品牌：
晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置一、引言随着半导体
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
、晶圆制造、及封装工艺检测、3C 电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS 器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面
2024-12-02 11:20 中图仪器 企业号
晶圆测温系统tc wafer晶圆表面温度均匀性测温晶圆表面温度均匀性测试
2023-12-04 11:36 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
)及分析反映表面质量的2D、3D参数。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。WD
2023-12-20 11:22 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶
2024-11-29 14:30 中图仪器 企业号
WD4000晶圆表面形貌量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶
2025-04-11 11:11 中图仪器 企业号
WD4000晶圆翘曲度几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。仪器通过非接触测量，将
2025-03-07 16:19 中图仪器 企业号
WD4000晶圆几何形貌量测机通过非接触测量，自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算
2025-02-21 14:09 中图仪器 企业号
WD4000晶圆Warp翘曲度量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow
2025-05-20 14:02 中图仪器 企业号
