设备，随着仪器数目的增加，测试速度必然会下降，从而影响产量。是否有多种功能于一体能够方便进行LED测试的设备？吉时利So
2016-07-07 16:25
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2022-06-29 10:30
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2017-02-08 02:23
（0.22-0.35nm）。这样小的芯片需要微探针才能够完成测试，分选过程需要精确的机械和图像识别系统，这使得设备的造价变得很高，而且测试速度受到限制。现在的LED芯片
2018-08-24 09:47
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2023-11-09 09:12
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2024-11-01 11:49
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2009-05-09 09:16
