本帖最后由 不认识曹操 于 2011-12-16 17:07 编辑 [post][/post]Latch up 是指cmos晶片中, 在电源power VDD和地线GND(VSS)之间由于寄生
2011-12-16 16:37
目前通用的Latch-up测试标准是JESD78E。该标准中将Latch-up测试分为两种：1.电流测试 I-test，用于测试非电源管脚；2.电压测试 V-test 用于测试电源管脚。
2023-06-12 16:27
ESD，EOS，Latch-up都是芯片在制造，运输，使用过程中的风险源，他们会对芯片造成不同程度的物理损伤。
2023-06-12 16:25
This document describes and discusses the topic of CMOS Latch-Up ranging from theory to testing
2016-10-26 11:38
本篇主要针对CMOS电平，详细介绍一下CMOS的闩锁效应。 1、Latch up 闩锁效应是指CMOS电路中固有的寄生可控硅结构（双极晶体管）被触发导通，在电源和地之间存在一个低阻抗大电流通路，导致
2020-12-23 16:06
ESD/Latch-Up Considerations with iCoupler Isolation Products Analog Devices iCoupler products
2009-06-21 10:22
Latch-Up today is still a potentially potent source of failure in the qualification flow
2017-09-14 08:54
Latch-Up(锁定)是CMOS存在一种寄生电路的效应，它会导致VDD和VSS短路，使得晶片损毁，或者至少系统因电源关闭而停摆。这种效应是早期CMOS技术不能被接受的重要原因之一。在制造更新和充分
2018-08-23 06:06
ADG5401：高伏特式Latch up，单片机SPST交换机
2021-05-10 13:58
USB Type-C应用中选错TVS造成的高度Latch-up风险
2021-12-09 16:42
