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型号:XMSEMI-OPTM 品牌:
晶圆外延膜厚测试仪技术点:1.设备功能:• 自动膜厚测试机EFEM,搭配客户OPTM测量头,完成晶圆片自动上料、膜厚检测、分拣下料;2.工作状态:• 晶圆尺寸8/
2022-10-27 13:43 芯茂(嘉兴)半导体科技有限公司 企业号
型号:<b class='flag-s-7'>开</b>合式高精度电流传感器 品牌:
开合式电流传感器一、 开合式传感器 开合式电流传感器,在易用性方面有得天独厚的优势,尤其是不允许中断的现场测量场合,几乎是固定的选择
2023-08-25 19:37 银河电气 企业号
型号:OnW-<b class='flag-s-7'>12</b> 品牌:瑞乐半导体
On Wafer WLS无线晶圆测温系统通过自主研发的核心技术将传感器嵌入晶圆集成,实时监控和记录晶圆在制程过程中的温度变化数据,为半导体制造过程提供一种高效可靠的方式来监测和优化关键
2025-06-27 10:37 瑞乐半导体 企业号
型号:ZW43-<b class='flag-s-7'>12</b>G 品牌:
概述ZW43-12(G)型户外高压真空断路器(以下简称开关)是三相交流50Hz、额定电压12kV的户外高压开关设备。开关主要用作变电站10kV出线开关及10kV级三相交流电力系统中作为分、合负荷电流
2022-09-05 10:06 豫开电气 企业号
型号:FKN<b class='flag-s-7'>12-12</b> 品牌:
24kV压气式负荷开关及组合电器 12kv高原型负荷开关FKN12-24/630一: 概述1.1 FKN12-24D/630-20系列高压压气式负荷开关及其组合电器为交流24kV,50Hz的户内
2022-10-05 10:55 豫开电气 企业号
型号:<b class='flag-s-7'>点</b>光谱共焦测量显微系统 品牌:
产品介紹—— 点光谱共焦测量显微系统是一种可达次级微米级的非接触式位移量测系统,对于表面漫反射或镜反射之物体乃至透明材质皆可测量其位移或厚度,基于出光与回传讯号路径同轴之特徵,点光谱共焦
2023-05-16 15:46 普密斯光学 企业号
型号:RTD-<b class='flag-s-7'>12</b> RTD-8 品牌:瑞乐半导体
RTD Wafer 晶圆测温系统利用自主研发的核心技术将 RTD 传感器集成到 晶圆表面,实时监控和记录晶圆在制程过程中的温度变化数据,为半导体 制造过程提供一种高效可靠的方式来监测和优化关键的工艺
2025-06-27 10:12 瑞乐半导体 企业号
RTD Wafer 晶圆测温系统利用自主研发的核心技术将 RTD 传感器集成到晶圆表面,实时监控和记录晶圆在制程过程中的温度变化数据,为半导体 制造过程提供一种高效可靠的方式来监测和优化关键的工艺
2025-06-27 10:08 瑞乐半导体 企业号
型号:tc wafer 品牌:
晶圆测温系统,晶圆测温热电偶,晶圆测温装置一、引言随着半导体技术的不断发展,晶圆制造工艺对温度控制的要求越来越高。热电偶作为一种常用的温度测量设备,在晶
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
型号:WD4000 品牌:中图仪器
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号