of 0.2 x 0.2mm.Withcondition applied)Wafer Thickness : 380μm ~760μm可透过Auto recipe selection 选择
2017-01-09 16:52
wafer 检查资料，有需要的可以看看
2014-08-06 14:59
Wafer test system PM&CalibrationJeffrey.Bin 第1 页共16 页Wafer test system PM&CalibrationRev
2012-05-05 12:30
，角速度变化去给sensor施加激励以产生信号，而传统的prober无法做到让wafer变化角度和加速等条件。也就不能对wafer进行晶圆级别的测试。实验室级别的sensor测试一般以测算谐振频和计算
2015-03-24 13:09
请教个问题：wafer表面被laser mark后，能通过电测吗？wafer表面被laser烧灼了一个图案，带有图案的wafer做完封装后到测试，测试可以通过吗？谢谢
2022-11-05 22:46
SPC5644的wafer有多少nm？
2023-05-25 08:46
由于Spartan（xcs40）没有IDCODE，如何在iMPACT的边界扫描模式下单击“Initiallize chain”时检测xcs40设备？ （我知道spartan3有IDCODE，所以
2019-05-27 14:02
PCA2129的wafer有多少nm？
2023-05-29 08:50
使用iMPACT版本14.4对Flash进行编程，但无法编程，我得到的消息如下。（我根本没有收到任何错误信息，只是显示Flash未编程）PROGRESS_START - 启动Operation.'1'：未
2019-08-12 09:03
Impact编程nexys板时，我总是有这条消息“程序失败”：GUI ---自动连接电缆......信息：iMPACT - 连接到TCF代理...信息：iMPACT - Digilent插件：插件版本
2019-09-06 06:11
