我们知道，不论是哪一级的验证，最终都是通过 pin 连接到 DUT 上向其施加激励，**对于 UVM 验证平台中，使用虚接口来实现 DUT 和验证平台的通信
2023-03-21 11:20
TestBench即测试平台，是为了检验待测设计（design under test，DUT）而搭建的验证环境。
2023-06-12 17:38
TestBench即测试平台，是为了检验待测设计（design under test，DUT）而搭建的验证环境。
2023-02-24 17:19
在UVM寄存器模型的操作中，寄存器用于设置DUT状态和芯片状态信息的上报，有前门和后门读写两种方式。
2023-08-19 09:50
定义一个配置对象：首先，需要定义一个包含DUT配置的UVM配置对象。这个对象通常会包含被测设备的所有可配置参数。
2023-06-06 12:55
寄存器模型保持着DUT内部寄存器值的 镜像（mirror） 。 镜像值不能保证是正确的，因为寄存器模型只能感知到对这些寄存器的外部读写操作。 如果DUT内部修改了寄存器中的字段，镜像值就会 过时
2023-06-24 12:02
编写一个创建模块dut实例（具有任何实例名称）的测试平台，并创建一个时钟信号来驱动模块的clk输入。时钟周期为 10 ps。时钟应初始化为零，其第一个转换为 0 到 1。
2023-03-13 09:19
用网络分析仪测试DUT的两个通道，发现驻波比差很多，第一反应是两个通道的阻抗一致性是不是没做好，打开阻抗测试界面，结果显示两个通道的阻抗差不多，而且满足阻抗要求…… 肯定是哪里操作有问题！来~~重新
2021-03-24 09:53
DUT07高频开关电源系统是以DZW75-48/50(50II)型整流器模块为基础，配以JP50-50II)型交流配电箱。如图所示为P50-交流配电箱原理图。
2011-06-21 10:13
在QCC517x的earbud工程中，已经能够支持用SPP进行DUT测试了（当然headset工程其实也已经支持了，前提是需要打开一些设置，这个不是本文的范畴，这里暂不做详细说明
2023-06-05 09:06
