本文参考银河电气官网：DFT算法与FFT算法的优劣分析DFT与它的快速算法FFT相比可能更有优势,而FFT却存在某些局限性.在只需要求出部分频点的频率谱线时DFT的运算时间大为减少,所需的数据内存
2014-05-22 20:43
dft可测试性设计，前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器总结...
2021-07-22 09:10
（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试
2011-12-15 09:32
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本
2021-07-23 07:28
实验二 FFT与DFT计算时间的比较及圆周卷积代替线性卷积的有效性实验：一 实验目的1：掌握FFT基2时间（或基2频率）抽选法，理解其提高减少乘法运算次数提高运算速度的原理。2：掌握FFT圆周卷积
2011-12-29 21:52
本帖最后由 mr.pengyongche 于 2013-4-30 03:26 编辑 两单频复指数信号的数字频率分别为π4
2012-11-06 11:47
2021-09-08 07:17
Written by Stig Oresjo and Barry Odbert.Published with permission from SMT Magazine, June 2002.
2019-06-19 13:51
2011-04-19 21:44
维修分析教材军团 good
2014-03-13 17:14
