芯片中的CP测试是什么？让凯智通小编来为您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP测试，也就是晶圆测试(Chip Probi
2023-06-10 15:51
芯片中的CP一般指的是CP测试，也就是晶圆测试(Chip Probing)。
2022-07-12 17:00
昨天我们了解到芯片的CP测试是什么，以及相关的测试内容和方法，那我们今天趁热打铁，来了解一下CP测试的流程。
2022-07-13 17:49
从工序角度上看，似乎非常容易区分cp测试和ft测试，没有必要再做区分，而且有人会问，封装前已经做过测试把坏的芯片筛选出来了，封装后为什么还要进行一次测试呢？难道是封装完成度不高影响了芯片的动能吗？不是的，因为从测试内
2022-08-09 17:29
国产USB转单串口CH9102,PIN替代CP2101/CP2102/CP2104/CP2109 CH9102 是一个 USB 总线的转接
2022-11-02 17:15
西湖CP2528A、CP2529A、CP2505A彩电开关电源电路
2009-01-23 08:40
CP最大的目的就是确保在芯片封装前，尽可能地把坏的芯片筛选出来以节约封装费用。所以基于这个认识，在CP测试阶段，尽可能只选择那些对良率影响较大的测试项目，一些测试难度大
2017-10-27 15:17
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成。而测试环节主要集中在CP（chip probing）、FT（Final Test）和WAT（Wafer Acceptance Test）三个环节。
2023-12-01 09:39
CP2102是SI1bab公司开发的USB转串口芯片，体积小巧，外围可以不需要任何元件即可够成一个最简单的USB-UART方案，通信速率可达1Mbps，很容易把串口产品升级到USB口，CP210最简应用原理图可以精简
2019-02-16 11:30
