在FPGA的时序分析页面，我们经常会看到`Max at Slow Process Corner`和`Min at Fast Process Corner`，具体是什么含义呢？
2023-05-05 15:50
本文聚焦IBIS（I/O Buffer Information Specification）模型中的Corner（Typ/Min/Max）参数处理，系统分析Corner的定义规则及其对信号完整性
2025-04-23 16:10
今天想聊一聊STA相关的RC corner的问题。我先简单介绍一些什么是signoff的corner，然后重点聊一聊RC corner。
2023-12-05 14:11
UltraEM可以使用Corner Sweep来仿真工艺变化对器件结构造成的影响，具体包含三种仿真模式：MonteCarlo仿真、Perturbation仿真与Corner仿真。
2023-06-19 10:25
90nm后更新的工艺，考虑到互连线coupling的影响，出现了RCworst, RCbest corner.
2023-06-11 15:32
在用 ADE XL仿真出现一个error ERRO ID：5010在用 ADE XLall 跑all Corner 的时候，第一个Corner总是会报错。不知道怎么回事，outputlog里面又没有显示有错，
2021-06-25 06:04
Cadence教程：基于Cadence的IC设计
2013-04-07 15:46
首先使用Harris Corner特征检测器和sift描述符检测图像中的特征，并在其他图像中找到最佳匹配特征; 然后使用RANSAC 对齐照片(确定它们的重叠和相对位置)，最后将生成的图像拼接到一个无缝的全景图中。
2023-03-01 11:41
1.Corner是芯片制造是一个物理过程，存在着工艺偏差（包括掺杂浓度、扩散深度、刻蚀程度等），导致不同批次之间，同一批次不同晶圆之间，同一晶圆不同芯片之间情况都是不相同的。 在一片wafer上
2023-11-01 15:57
漂移速度都是一样的，随着电压、温度不同，它们的特性也会不同，把他们分类就有了PVT（Process，Voltage，Temperature），而Process又分为不同的corner：TT
2023-12-01 13:31
