针对CMOS器件的闩锁现象，结合三种实际的应用电路分析了电路系统中闩
2010-07-31 17:13
闩锁效应是CMOS工艺所特有的寄生效应，严重会导致电路的失效，甚至烧毁芯片。闩锁效应是由NMOS的有源区、P衬底、N阱、PMOS的有源区构成的n-p-n-p结构产生的，当其中一个三极管正偏时，就会构成正反馈形成闩
2019-06-11 17:19
最近在使用STM32时经常发生3v3与地短路的情况，听说是什么闩锁的原因，请问这个怎么解锁呀，可以解吗
2023-10-21 22:34
闩锁防盗报警器电路图
2009-03-19 10:25
SCR闩锁被定义为“通过触发CMOS输入和输出电路中固有的寄生四层双极结构（SCR）来在电源轨之间创建低阻抗路径”。
2021-05-26 05:16
闩锁测试中进行电流注入测试时，管脚电压还不允许超多1.52倍最大电压，这个如何做到呢？注入的电流需要是在工作电流+100mA。
2024-02-04 07:29
闩锁防盗报警器电路图
2009-03-19 10:26
固态闩锁继电器
2009-10-06 11:22
辐射引起。此测试通常在其他单粒子效应测试之前完成，因为它可能具有破坏性。有很多方法可以降低风险，使用额外的电路来检测和防止闩锁情况，但在许多应用中，不希望产品在较低LET值时闩
2018-10-31 10:29
闩式短路保护电路 闩锁电路一旦置位后，输出激励
2009-10-14 16:48
