CMOS-4 - CMOS-4 - NEC
2022-11-04 17:22
电容器的常见失效模式有：――击穿短路；致命失效――开路；致命失效――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等；部分功能失效――漏液；部分
2018-03-15 11:00
今天梳理一下IGBT现象级的失效形式。 失效模式根据失效的部位不同，可将IGBT失效分为芯片失效和封装
2023-02-22 15:05
科技名词定义中文名称：失效分析 英文名称：failure analysis 其他名称：损坏分析 定义：对运行中丧失原有功能的金属构件或设备进行损坏原因分析研究的技术。 所属学科：简介 失效分析
2011-11-29 16:39
ESD失效和EOS失效的区别 ESD（电静电放电）失效和EOS（电压过冲）失效是在电子设备和电路中经常遇到的两种失效问题
2023-12-20 11:37
▼关注公众号：工程师看海▼ 失效分析一直伴随着整个芯片产业链，复杂的产业链中任意一环出现问题都会带来芯片的失效问题。芯片从工艺到应用都会面临各种失效风险，笔者平时也会参与到失效
2023-12-20 08:41
电容器的常见失效模式有： ――击穿短路；致命失效 ――开路；致命失效 ――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等；部分功能失效 ――漏
2021-12-11 10:13
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:10 编辑 电容器的常见失效模式有：――击穿短路；致命失效――开路；致命失效――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降
2011-12-03 21:29
