集成电路(IC)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。什么是小尺寸集成电路CDM测试？两者之间有
2019-08-07 08:17
本文将探讨小器件CDM测试的难处，并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想。
2011-09-08 10:55
CDM(Charge Device Model)，与MM与HBM一起作为ESD的三种类型之一。随着IC工艺进程的发展与自动化生产流程的普及，CDM已经取代MM与HBM成为芯片失效的主要静电类型，目前CDM造成的失效占
2023-05-16 15:47
CDM4星河XH-420CD机电路图310主板CDM4星河XH-420CD机电路图
2019-12-01 16:03
目前针对CDM的测试规模主要有：ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 /IEC 60749-28/AEC-Q100-11。这三个详规都是针对封装后的芯片。
2023-05-16 15:53
CDM、HBM 或 MM 之间没有相关性。因此，HBM和CDM测试通常用于ESD保护电路测试。较长的 I ESD持续时间导致片上 ESD 结构的过热增加。HBM 和 MM 测试失败通常出现在栅极氧化层或结损坏。
2022-08-09 11:49
前几期曾经讲过，对封装后的芯片进行CDM测试，大量非平衡载流子会通过金线集聚到封装框架中。所以封装也是影响CDM的关键因素之一，恰宜的封装能大幅度提升芯片的CDM防护等级。
2023-05-16 15:59
小米2和魅族mx四核对比哪个好,小米2和小米2和魅族mx哪个好，小米2和
2012-09-19 17:14
C = 1/(2π × Z × Freq)，Z 正好为 8 pF。测量 CDM 的新方法作者决定只使用增益为 1 的缓冲电路，并使用电流源激励输出和反相输入。输出和反相输入将仅在运算放大器允许
2020-04-24 08:00
