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目前针对CDM的测试规模主要有：ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 /IEC 60749-28/AEC-Q100-11。这三个详规都是针对封装后的芯片。
2023-05-16 15:53
CDM(Charge Device Model)，与MM与HBM一起作为ESD的三种类型之一。随着IC工艺进程的发展与自动化生产流程的普及，CDM已经取代MM与HBM成为芯片失效的主要静电类型，目前CDM造成的失效占
2023-05-16 15:47
集成电路(IC)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。什么是小尺寸集成电路CDM测试？两者之间有什么区别？
2019-08-07 08:17
有许多成熟的模型可以针对ESD事件测试半导体器件的可靠性，以确保有效性和可靠性。主要的ESD测试是人体模型（HBM），机器模型（MM）和充电设备模型（CDM）（图1）。
2022-11-30 16:28
本文将探讨小器件CDM测试的难处，并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想。
2011-09-08 10:55
前几期曾经讲过，对封装后的芯片进行CDM测试，大量非平衡载流子会通过金线集聚到封装框架中。所以封装也是影响CDM的关键因素之一，恰宜的封装能大幅度提升芯片的CDM防护等级。
2023-05-16 15:59
在芯片制造与使用的领域中，静电是一个不容小觑的威胁。芯片对于静电极为敏感，而HBM（人体模型）测试和CDM（充放电模型）测试是评估芯片静电敏感度的重要手段。
2024-12-16 18:07
CDM、HBM 或 MM 之间没有相关性。因此，HBM和CDM测试通常用于ESD保护电路测试。较长的 I ESD持续时间导致片上 ESD 结构的过热增加。HBM 和 MM 测试失败通常出现在栅极氧化层或结损坏。
2022-08-09 11:49
CDM6 系列塑壳断路器主要包括CDM6S 塑料外壳式断路器，CDM6L 剩余电流保护塑料外壳式断路器，CDM6e 塑料外壳式断路器（电子式）。它们可以广泛应用于民用住
2017-10-23 16:58
