半导体测试设备主要包括三类：ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现，而探针台和分选机实现的则是机械功能，将被测晶圆/芯片拣选至
2023-12-04 17:30
01项目概述为海军ATE测试设备开发海量互连V25通用测试接口，提升测试系统的通用性、可移植性和维护效率。核心思想：从“面向仪器”转向“面向信号”，通过标准化信号链路实
2025-03-21 16:37 腾方中科高密连接方案 企业号
支持100Gbps的传输速率，传输距离可达550米。在测试测量领域，OM3多模光纤我们常见的应用有：分布式光纤传感系统、CCD视觉、激光扫描、动态仿真测试等。常见的连接器
2024-08-30 13:20 腾方中科高密连接方案 企业号
先进的数字处理器IC要求通过单独的DC参数和高速数字自动测试设备（ATE）测试，以达到质保要求，这带来了很大的成本和组织管理挑战。
2022-06-03 09:01
本文首先介绍了ATE自动化测试系统发展线路，其次阐述了ATE自动化测试系统的作用及原理、特点、优势，最后介绍了ATE自动
2018-05-23 16:47
在IC的测试中，电压的测试是所有测试参数中最为常见的一种参数，尤其是模拟芯片的测试，电压测试更显常见及重要，如：LDO、
2017-10-27 15:48
、ENOB、二次谐波、三次谐波和 SFDR。总共有五个单元，四个辐照单元和一个控制单元，根据提供的辐射前和辐射后暴露的ATE测试结果进行测试。
2023-06-30 14:38
设备的日趋复杂和技术的渐进融合迫使测试系统变得更加灵活。尽管成本的压力要求系统具有更长的生命周期，测试系统仍须适应设备随时间变化而带来的各种变化。而实现这些目标的唯一途径便是采用一种软件定义的模块化
2020-05-18 09:20
