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型号:tc wafer 品牌:
晶圆测温系统,晶圆测温热电偶,晶圆测温装置一、引言随着半导体技术的不断发展,晶圆制造工艺对温度控制的要求越来越高。热电偶作为一种常用的温度测量设备,在晶
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
型号:WD4000 品牌:<b class='flag-s-7'>中</b>图仪器
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
型号:WD4000系列 品牌:<b class='flag-s-7'>中</b>图仪器
中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度量测系统通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防
2024-11-29 14:30 中图仪器 企业号
型号:jyzjqxj 品牌:
在半导体制造的精密流程中,晶圆载具清洗机是确保芯片良率与性能的关键设备。它专门用于清洁承载晶圆的载具(如载具、花篮、托盘等),避免污染物通过载具转移至晶圆表面,从而保障
2025-06-25 10:47 芯矽科技 企业号
WD4000晶圆厚度测量设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆
2025-06-18 15:40 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆几何参数测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2024-11-25 16:13 中图仪器 企业号
WD4000晶圆厚度THK几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶
2025-07-10 13:42 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆硅片厚度测量仪采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚
2024-11-07 13:46 中图仪器 企业号
型号:OnW-12 品牌:瑞乐半导体
On Wafer WLS无线晶圆测温系统通过自主研发的核心技术将传感器嵌入晶圆集成,实时监控和记录晶圆在制程过程中的温度变化数据,为半导体制造过程提供一种高
2025-06-27 10:37 瑞乐半导体 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度Wafer参数量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同
2024-10-14 13:31 中图仪器 企业号