低功耗数字VLSI设计:概览:
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基于HEVC整数DST的VLSI设计与实现_杜高明
2017-01-03 17:41
本文在综述基本的VLSI测试方法和可测试性设计技术的基础上，对基于核的片上系统的可测试性设计和测试方法进行简单介绍。最后，通过分析集成电路设计和制造工艺的发展给测试带来
2011-05-28 16:19
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2023-11-20 11:10
“Wireless is coming” was the message received by VLSI designers in theearly 1990’s. They believed
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VLSI 超大规模集成电路测试和验证的发展趋势，感兴趣的可以看看。
2016-09-01 15:27
